手持式X光荧光分(fēn)析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多(duō)种材料(固體(tǐ)和粉末金属、聚合物(wù)、木(mù)材、溶液、土壤、矿石、矿物(wù)等)的准确化學(xué)结构分(fēn)析所需的性能(néng)。 X-MET方便、耐用(yòng)且使用(yòng)简单,可(kě)為(wèi)您提供可(kě)靠的结果。 我们提供多(duō)种型号的产(chǎn)品,符合您不同应用(yòng)的所有(yǒu)分(fēn)析需要和预算。
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查看详细電(diàn)感耦合等离子體(tǐ)发射光谱仪(ICP)是一种高度精(jīng)确的分(fēn)析技(jì )术,可(kě)检测样本中(zhōng)的微量物(wù)质(zhì)。但这项技(jì )术极為(wèi)复杂,必须由专家来完成,并使用(yòng)需要定期校准和维护的精(jīng)密设备。
查看详细光谱测量系统分(fēn)析程序的一个关键环节是精(jīng)确计算测量的误差范围。其中(zhōng)有(yǒu)几种计算方法可(kě)供选择,如ISO认可(kě)的GUM法,它要求有(yǒu)一份经校准的标准样品。或者,如果没有(yǒu)标准样品,则可(kě)使用(yòng)不同的方法来估计误差范围。
查看详细國(guó)际认可(kě)的测量不确定度计算方法GUM依赖于提供经认证的标准样品。同样,标准样品也可(kě)用(yòng)于找出光谱仪的任何可(kě)重复偏移量(平均值的系统偏差)。
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